石英晶体元件参数的测量 第8部分:表面贴装石英晶体元件用测量夹具（GB/T 22319.8-2008），该标准的归口单位为全国频率控制和选择用压电器件标委会，英文名为Measurement of quartz crystal unit parameters. Part 8:Test fixture for surface mounted quartz crystal units。
石英晶体元件参数的测量 第8部分:表面贴装石英晶体元件用测量夹具（GB/T 22319.8-2008）是在2008-08-06发布，在2009-01-01开始实施。
被标准 替代。
该标准采用了标准IEC 60444-8-2003,IDT。
GB/T 22319的本部分规定了能精确测量无引线表面贴装石英晶体元件的谐振频率、谐振电阻及等效电路参数的测量夹具,测量方法采用IEC 60444-4-1988和IEC 60444-5-1995规定的零相位技术。
使用该测量夹具的等效电路和适用的频率范围见随后条款。此外,本部分也适用于IEC 61240-1994中的无引线晶体元件外壳。测量夹具的等效电路和电参数都基于IEC 60444-1-1986和IEC 60444-4-1988。负载电容范围为10pF或更高。本部分还规定了测量系统和CL片的校准。
本部分适用于能准确测量石英晶体元件的谐振频率、谐振电阻、并电容C0、动态电容C1和动态电感L1的测量夹具,其频率范围为1MHz～150MHz,采用基于IEC 60444-5-1995的自动网络分析仪。
本标准文件共有7页。
GB_T 22319.8-2008 石英晶体元件参数的测量 第8部分_表面贴装石英晶体元件用测量夹具.pdf
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