本标准为YS/T 702-2009，标准的中文名称为X射线荧光光谱法测定氢氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O含量，标准的英文名称为Determination of silicon oxide,Iron oxide,Sodium oxide content of Aluminum Hydroxide by X-ray fluorescence spectrometric method，本标准在2009-12-04发布，在2010-06-01开始实施。
本标准规定了氢氧化铝中SiO(2)、Fe(2)O(3)、Na(2)O含量测定方法。本标准适用于氢氧化铝中SiO(2)、Fe(2)O(3)、Na(2)O含量的测定。测定范围见表1。
本标准文件共有6页。
YS_T 702-2009 X射线荧光光谱法测定氢氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O含量.pdf
(164.67 KB)
|
|
