半导体探测器X射线能谱仪通则（GB/T 20726-2006），该标准的归口单位为全国微束分析标准化技术委员会，英文名为Instrumental specification for energy dispersive X-ray spectrometers with semiconductor detectors。
半导体探测器X射线能谱仪通则（GB/T 20726-2006）是在2006-12-25发布，在2007-08-01开始实施。
它在2016-09-01作废。被标准GB/T 20726-2015替代。
该标准采用了标准ISO 15632-2002,IDT。
本标准规定了表征以半导体探测器、前置放大器和信号处理系统为基本构成的X射线能谱仪(EDS)特性最重要的量值。本标准仅适用于固态电离作用原理的半导体探测器EDS。本标准只规定了与电子探针(EPMA)或扫描电镜(SEM)联用的此类EDS的最低要求,至于如何实现分析则不在本标准的规定范围之内。
本标准文件共有11页。
GB_T 20726-2006 半导体探测器X射线能谱仪通则.pdf
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