金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法（GB/T 17722-1999），该标准的归口单位为全国微束分析标准化技术委员会，英文名为Gold-plated thickness measurement by SEM。
金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法（GB/T 17722-1999）是在1999-04-11发布，在1999-12-01开始实施。
本标准规定了各类金制品的金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法的技术要求,本标准也适用于电子探针仪测量金覆盖层厚度适用的厚度测量范围为0.2～10μm。其他金属材料的覆盖层厚度的测量也可参照执行。
本标准文件共有7页。
GB_T 17722-1999 金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法.pdf
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