用半导体γ谱仪分析低比活度 γ放射性样品的标准方法（GB/T 11713-1989），该标准的归口单位为无，英文名为Standard methods of analyzing low specific gamma radioactivity samples by semiconductor gamma spectrometers。
用半导体γ谱仪分析低比活度 γ放射性样品的标准方法（GB/T 11713-1989）是在1989-09-21发布，在1990-07-01开始实施。
它在2016-01-01作废。被标准GB/T 11713-2015替代。
本标准规定了使用高能量分辨能力的半导体γ射线能谱仪分析低比活度γ放射性核素的固态、液态或可以转化为这两种物态的均匀样品的常规方法。本标准适用于分析活度大于谱仪的探测限L(D)〔附录A(补充件)〕,并且各核素的γ特征谱线能够分辨开的样品。因此,一般对样品只作诸如烘干、粉碎、搅匀等简单的物理处理,而不作化学分离。当必须对样品作化学分离时,其回收率等参数应按相应规程测定。
本标准文件共有12页。
GB_T 11713-1989 用半导体γ谱仪分析低比活度 γ放射性样品的标准方法.pdf
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