GB/T 5594.8-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定

电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定（GB/T 5594.8-1985），该标准的归口单位为无，英文名为Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components. Determination of microstructure。
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定（GB/T 5594.8-1985）是在1985-11-27发布，在1986-12-01开始实施。
它在2016-01-01作废。被标准GB/T 5594.8-2015替代。
本标准适用于氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定。本标准只涉及光学显微镜的测定内容和测定方法。
本标准文件共有5页。
GB_T 5594.8-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定.pdf (159.97 KB)

2021-4-13 17:44 上传

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