电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法（GB/T 5594.5-1985），该标准的归口单位为无，英文名为Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components. Test method for volume resistivity。
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法（GB/T 5594.5-1985）是在1985-11-27发布，在1986-12-01开始实施。
本标准适用于电子元器件结构陶瓷在室温至500℃范围体积电阻率的测定。
本标准文件共有3页。 GB_T 5594.5-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法.pdf(121.99 KB)
