本标准为SJ 20954-2006，标准的中文名称为集成电路锁定试验，标准的英文名称为Integrated circuits latch-up test，本标准在2006-08-07发布，在2006-12-30开始实施。
本标准规定了集成电路(IC)的电流锁定和过压锁定的试验方法。本标准的目的是建立测试IC锁定试验的方法,用来判断集成电路锁定特性并确定锁定的失效判据。锁定敏感性对于决定产品可靠性、最小无故障率(NTF)和过电应力失效(EOS)非常重要。本试验方法适用于NMOS、CMOS、双极以及各种使用此类工艺的产品。当器件被置于该试验方法出现锁定时,表明器件电性能失效,与器件特殊结构无关。
本标准文件共有15页。
SJ 20954-2006 集成电路锁定试验.pdf
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