本标准为SJ/T 11212-1999，标准的中文名称为石英晶体元件参数的测量 第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量，标准的英文名称为Measurement of quartz crystal unit parameters. Part 6:Measurement of drive level dependence (DLD)，本标准在1999-08-26发布，在1999-12-01开始实施。
该标准采用了标准IEC 444-6-1995,IDT。
本标准适用于石英晶体元件激励电平相关性(DlD)的测量。本标准规定两种试验方法。方法A,以SJ/Z 9154.1-87的π型网络为基础,适用于该标准所覆盖的整个频率范围。方法B,是振荡器法,适用于固定条件下大批量基频石英晶体元件的测量。
本标准文件共有16页。
SJ_T 11212-1999 石英晶体元件参数的测量 第6部分_激励电平相关性(DLD)的测量.pdf
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