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YD/T 730-1994 光端机技术指标测试方法

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333333333333 发表于 2021-12-6 19:35 | 显示全部楼层 |阅读模式
本标准为YD/T 730-1994,标准的中文名称为光端机技术指标测试方法,本标准在1994-07-20发布,在1995-01-01开始实施。
本标准规定了光端机电接口和光接口指标的测试方法。包括电接口允许比特率容差、输入抖动容限、无输入抖动时的最大输出抖动、抖动转移特性、反射衰减、输出口波形、输入口抗干扰性能和过压保护性能的测试方法,以及平均发送光功率、接收机灵敏度和动态范围、平均误比特率的测试方法。 本标准适用于2048kbit/s,8448kbit/s,34368kbit/s,139264kbit/s光端机电接口和光接口指标的测试。
本标准文件共有13页。
YD_T 730-1994 光端机技术指标测试方法.pdf (369.55 KB)
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暗夜666 发表于 2023-7-8 18:35 | 显示全部楼层
支持一下
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westwind8 发表于 2023-7-28 15:36 | 显示全部楼层
好资源,正好需要
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