本标准为SJ 2658-1986，标准的中文名称为半导体红外发光二极管测试方法，标准的英文名称为Method of measurement for semiconductor infrared diodes，本标准在1986-01-21发布，在1986-10-01开始实施。
该标准采用了标准IEC及日,美标准,NEQ。
本标准适用于半导体红外发光二极管光电参数的测试,其光电参数的测试按相应的标准和技术条件的规定进行。
本标准文件共有22页。
SJ 2658-1986 半导体红外发光二极管测试方法.pdf
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