SJ 2658.8-1986 半导体红外发光二极管测试方法法向辐射率的测试方法

精品发现者 · 发表于 2021-12-7 16:24

本标准为SJ 2658.8-1986，标准的中文名称为半导体红外发光二极管测试方法法向辐射率的测试方法，本标准在1986-01-21发布，在1986-10-01开始实施。
本标准作废日期为2016-04-01。被标准SJ/T 2658.8-2015替代。
本标准适用于红外发光二极管法向辐射率的测试。
本标准文件共有2页。

SJ 2658.8-1986 半导体红外发光二极管测试方法法向辐射率的测试方法.pdf (46.64 KB)

咕噜咕噜 · 发表于 2021-12-15 09:38

感谢分享~

CN99999 · 发表于 2022-1-17 01:46

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