SJ 2658.12-1986 半导体红外发光二极管测试方法峰值发射波长和光谱半宽度的测试方法

壹ID · 发表于 2021-12-3 09:49

本标准为SJ 2658.12-1986，标准的中文名称为半导体红外发光二极管测试方法峰值发射波长和光谱半宽度的测试方法，本标准在1986-01-21发布，在1986-10-01开始实施。
本标准作废日期为2016-04-01。被标准SJ/T 2658.12-2015替代。
本标准适用于半导体红外发光二极管峰值发射波长和光谱半宽度的测试。
本标准文件共有2页。

SJ 2658.12-1986 半导体红外发光二极管测试方法峰值发射波长和光谱半宽度的测试方法.pdf (40.24 KB)

xmen · 发表于 2022-2-14 15:00

看看。。。

cove · 发表于 2022-2-17 11:42

不错不错

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SJ 2658.12-1986 半导体红外发光二极管测试方法 峰值发射波长和光谱半宽度的测试方法

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