SJ 2214.7-1982 半导体光敏三极管饱和压降的测试方法

VPI123 · 发表于 2021-12-4 05:27

半导体光敏三极管饱和压降的测试方法（SJ 2214.7-1982），该标准的归口单位为无，半导体光敏三极管饱和压降的测试方法（SJ 2214.7-1982）是在1982-11-30发布，在1983-07-01开始实施。
它在2015-10-01作废。被标准SJ/T 2214-2015替代。
本标准适用于光敏三极管饱和压降V(CE(sat))的测试。
本标准文件共有1页。

SJ 2214.7-1982 半导体光敏三极管饱和压降的测试方法.pdf (139.18 KB)

tryhdrfhyydrh · 发表于 2022-3-11 11:09

好东西！！！

QQ1577467338 · 发表于 2022-9-23 15:30

看看先

		自动登录	找回密码
密码			QQ一键登录

SJ 2214.7-1982 半导体光敏三极管饱和压降的测试方法

相关帖子

浏览过的版块