SJ 2214.8-1982 半导体光敏三极管暗电流的测试方法

大马炮 · 发表于 2021-12-2 16:44

半导体光敏三极管暗电流的测试方法（SJ 2214.8-1982），该标准的归口单位为无，半导体光敏三极管暗电流的测试方法（SJ 2214.8-1982）是在1982-11-30发布，在1983-07-01开始实施。
它在2015-10-01作废。被标准SJ/T 2214-2015替代。
本标准适用于光敏三极管暗电流I(D)的测试。
本标准文件共有1页。

SJ 2214.8-1982 半导体光敏三极管暗电流的测试方法.pdf (130.22 KB)

丶唯美式悲殇 · 发表于 2022-1-2 11:54

支持一下

x1580559825 · 发表于 2022-3-8 18:09

支持下啊

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SJ 2214.8-1982 半导体光敏三极管暗电流的测试方法

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