SJ 2215.2-1982 半导体光耦合器(二极管)正向压降的测试方法

hx8862751 · 发表于 2021-12-6 11:46

本标准为SJ 2215.2-1982，标准的中文名称为半导体光耦合器(二极管)正向压降的测试方法，本标准在1982-11-30发布，在1983-07-01开始实施。
本标准作废日期为2015-10-01。被标准SJ/T 2215-2015替代。
本标准适用于光耦合器的二极管正向电压降V(F)的测试。
本标准文件共有1页。

SJ 2215.2-1982 半导体光耦合器(二极管)正向压降的测试方法.pdf (137.35 KB)

HiHo-boy · 发表于 2021-12-16 12:16

看看先

散人柔情 · 发表于 2022-6-2 08:12

看一下

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SJ 2215.2-1982 半导体光耦合器(二极管)正向压降的测试方法

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