本标准为GB/T 4937.37-2025，标准的中文名称为半导体器件 机械和气候试验方法 第37部分：采用加速度计的板级跌落试验方法，标准的英文名称为Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 37: Board level drop test method using an accelerometer，本标准在2025-12-31发布，在2026-07-01开始实施。
该标准采用了标准本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60749-37:2022。。
本标准文件共有22页。 GB_T 4937.37-2025 半导体器件 机械和气候试验方法 第37部分：采用加速度计的板级跌落试验方法.pdf(2.81 MB)
