JB/T 12962.3-2016 能量色散X射线荧光光谱仪第3部分：镀层厚度分析仪

wiliam · 发表于 2021-4-9 23:49

本标准为JB/T 12962.3-2016，标准的中文名称为能量色散X射线荧光光谱仪第3部分：镀层厚度分析仪，标准的英文名称为Energy dispersive X-ray fluorescence spectrometer. Part 3: Plating thickness analyzer，本标准在2016-10-22发布，在2017-04-01开始实施。
JB/T 12962的本部分规定了能量色散X射线荧光镀层厚度分析仪的术语和定义、测量范围、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。本部分适用于采用X射线管为激发源，对镀层厚度进行无损测试的能量色散X射线荧光光谱仪(以下简称仪器)，采用其他激发源的仪器可参照使用。
本标准文件共有12页。

JB_T 12962.3-2016 能量色散X射线荧光光谱仪第3部分：镀层厚度分析仪.pdf (746.97 KB)

532221749 · 发表于 2022-2-7 20:28

谢谢分享！！！！

liuzexi5412 · 发表于 2023-6-2 01:29

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JB/T 12962.3-2016 能量色散X射线荧光光谱仪 第3部分：镀层厚度分析仪

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