电子陶瓷及其封接气密性测试方法（SJ/T 11583-2016），该标准的归口单位为全国半导体设备和材料标准化技术委员会，英文名为Test method for electronic ceramic seal and air tightness test。
电子陶瓷及其封接气密性测试方法（SJ/T 11583-2016）是在2016-01-15发布，在2016-06-01开始实施。
本标准规定了电子陶瓷材料、已金属化的待封接电子陶瓷或已封接的电真空陶瓷管制品的封接气密性测试原理、测试装置以及测试步骤等内容。本标准适用于电子陶瓷材料，如95瓷、93瓷等以及已金属的电子陶瓷或已封接的电真空陶瓷管制品室温下封接气密性的测试。
本标准文件共有7页。 SJ_T 11583-2016 电子陶瓷及其封接气密性测试方法.pdf(3.49 MB)
