SJ/T 2658.2-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第2部分：正向电压

本标准为SJ/T 2658.2-2015，标准的中文名称为半导体红外发射二极管测量方法 第2部分：正向电压，标准的英文名称为Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode
. Part 2: Forward voltage，本标准在2015-10-10发布，在2016-04-01开始实施。
本部分规定了半导体红外发射二极管正向电压的洲量原理图、测量步骤以及规定条件。本部分适用于半导体红外发射二极管。
本标准文件共有5页。
SJ_T 2658.2-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第2部分：正向电压.pdf (1.94 MB)

2021-4-12 13:24 上传

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