表面化学分析 X射线光电子能谱-荷电控制和荷电校正方法的报告（GB/T 25185-2010），该标准的归口单位为全国微束分析标准化技术委员会，英文名为Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Reporting of methods used for charge control and charge correction。
表面化学分析 X射线光电子能谱-荷电控制和荷电校正方法的报告（GB/T 25185-2010）是在2010-09-26发布，在2011-08-01开始实施。
该标准采用了标准ISO 19318-2004,IDT。
本标准以最少量的资料描述了用X射线光电子能谱测量绝缘样品内能级结合能,及将在报告其分析结果时所采用的荷电控制和荷电校正方法,也给出了在结合能测量过程中对于荷电控制和荷电校正有用的方法资料。
本标准文件共有15页。
GB_T 25185-2010 表面化学分析 X射线光电子能谱-荷电控制和荷电校正方法的报告.pdf
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