GB/T 20724-2006 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法:本标准为GB/T 20724-2006，标准的中文名称为薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法，标准的英文名称为Method of thickness measurement for thin crystal by convergent beam electron diffraction，本标准在2006-12-25发布，在2007-08-01开始实施。
本标准规定了用透射电子显微镜测定薄晶体厚度的会聚束电子衍射方法。本方法适用于测定线度为10^-^9m～0.1×10^-^3m、厚度在几十至几百纳米范围的薄晶体厚度。
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GB_T 20724-2006 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法.pdf