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GB_T 17574.10-2003 半导体器件集成电路第2-10部分_数字集成电路集成电路动态读_写存储器空白详细规范.pdf

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GB/T 17574.10-2003 半导体器件集成电路第2-10部分:数字集成电路集成电路动态读/写存储器空白详细规范:

半导体器件集成电路第2-10部分:数字集成电路集成电路动态读/写存储器空白详细规范（GB/T 17574.10-2003），该标准的归口单位为中国电子技术标准化研究所，英文名为Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 2-10

igital integrated circuits. Blank detail specification for integrated circuit dynamic read/write memories。
半导体器件集成电路第2-10部分:数字集成电路集成电路动态读/写存储器空白详细规范（GB/T 17574.10-2003）是在2003-11-24发布，在2004-08-01开始实施。
该标准采用了标准IEC 60748-2-10-1994,IDT。
IEC电子元器件质量评定体系遵循IEC的章程，并在IEC的授权下进行工作。该体系的目的是确定质量评定程序，以这种方式使一个参加国按有关规范要求放行的电子元器件无需进一步试验而为其他所有参加国同样接受。
本标准文件共有17页。

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