GB/T 11685-2003 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法:本标准为GB/T 11685-2003，标准的中文名称为半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法，标准的英文名称为Measurement procedures for semiconductor X - ray detector system and semiconductor X-ray energy spectrometers，本标准在2003-07-07发布，在2004-01-01开始实施。
本标准规定了半导体X射线探侧器系统和半导体X射线能谱仪主要特性的侧量方法。本标准适用于半导体X射线探侧器系统和半导体X射线能谱仪主耍性能的侧a.
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GB_T 11685-2003 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法.pdf