GB/T 4377-2018 半导体集成电路 电压调整器测试方法:本标准为GB/T 4377-2018，标准的中文名称为半导体集成电路 电压调整器测试方法，标准的英文名称为Semiconductor integrated circuits. Measuring method of voltage regulators，本标准在2018-03-15发布，在2018-08-01开始实施。
本标准规定了电压调整器(以下称为器件)参数测试方法。本标准适用于半导体集成电路领域中电压调整器参数的测试。
本标准文件共有27页。
GB_T 4377-2018 半导体集成电路 电压调整器测试方法.pdf