GB/T 35006-2018 半导体集成电路 电平转换器测试方法:半导体集成电路 电平转换器测试方法(GB/T 35006-2018),该标准的归口单位为全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会,英文名为Semiconductor integrated circuits. Measuring method of level converter。
半导体集成电路 电平转换器测试方法(GB/T 35006-2018)是在2018-03-15发布,在2018-08-01开始实施。
本标准规定了半导体集成电路电平转换器(以下称为器件)功能、静态参数和动态参数的测试方法。本标准适用于半导体集成电路电平转换器功能、静态参数和动态参数的测试。
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