GB/T 35007-2018 半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法:半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法（GB/T 35007-2018），该标准的归口单位为全国半导体器件标准化技术委员会，英文名为Semiconductor integrated circuits. Measuring method of low voltage differential signaling circuitry。
半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法（GB/T 35007-2018）是在2018-03-15发布，在2018-08-01开始实施。
本标准规定了半导体集成电路低电压差分信号(LVDS,Iow voltage differential signaling)电路(以下称为“器件”)静态参数、动态参数测试方法的基本原理。本标准适用于低电压差分信号电路静态参数、动态参数的测试。
本标准文件共有37页。
GB_T 35007-2018 半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法.pdf