GB/T 18210-2000 晶体硅光伏(PV)方阵I-V特性的现场测量:晶体硅光伏(PV)方阵I-V特性的现场测量（GB/T 18210-2000），该标准的归口单位为全国太阳光伏能源系统标准化技术委员会，英文名为Crystalline silicon photovoltaic (PV) array. On-site measurement of I-V characteristics。
晶体硅光伏(PV)方阵I-V特性的现场测量（GB/T 18210-2000）是在2000-10-17发布，在2001-05-01开始实施。
该标准采用了标准IEC 61829-1995,IDT。
本标准描述晶体硅光伏方阵特性的现场测量及将测得的数据外推到标准测试条件(STC)或其他选定的温度攻辐照度条件下的程序。
本标准文件共有11页。
GB_T 18210-2000 晶体硅光伏(PV)方阵I-V特性的现场测量.pdf