GB/T 18032-2000 砷化镓单晶AB微缺陷检验方法:砷化镓单晶AB微缺陷检验方法（GB/T 18032-2000），该标准的归口单位为中国有色金属工业标准计量质量研究所，英文名为The inspecting method of AB microscopic defect in gallium arsenide single crystal。
砷化镓单晶AB微缺陷检验方法（GB/T 18032-2000）是在2000-04-03发布，在2000-09-01开始实施。
本标准规定了砷化镓单晶AB微缺陷的检验方法。本标准适用于砷化镓单晶AB微缺陷密度(AB-EPD)的检验。检验面为(100)面。测量范围小于5×10^5cm^-^2。
本标准文件共有7页。
GB_T 18032-2000 砷化镓单晶AB微缺陷检验方法.pdf