GB/T 18032-2000 砷化镓单晶AB微缺陷检验方法:砷化镓单晶AB微缺陷检验方法(GB/T 18032-2000),该标准的归口单位为中国有色金属工业标准计量质量研究所,英文名为The inspecting method of AB microscopic defect in gallium arsenide single crystal。
砷化镓单晶AB微缺陷检验方法(GB/T 18032-2000)是在2000-04-03发布,在2000-09-01开始实施。
本标准规定了砷化镓单晶AB微缺陷的检验方法。本标准适用于砷化镓单晶AB微缺陷密度(AB-EPD)的检验。检验面为(100)面。测量范围小于5×10^5cm^-^2。
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