GB/T 16864-1997 低温下晶体透射率的试验方法:低温下晶体透射率的试验方法（GB/T 16864-1997），该标准的归口单位为中国科学院物理研究所，英文名为Method for testing cryogenic transmissivity of crystals。
低温下晶体透射率的试验方法（GB/T 16864-1997）是在1997-06-16发布，在1997-12-01开始实施。
该标准采用了标准 。
本标准规定了低温下(300K～20K),波长在紫外-近红外的晶体透射率的试验方法。本标准适用于晶体透射率的测试。
本标准文件共有5页。
GB_T 16864-1997 低温下晶体透射率的试验方法.pdf