GB/T 1550-1997 非本征半导体材料导电类型测试方法:本标准为GB/T 1550-1997，标准的中文名称为非本征半导体材料导电类型测试方法，标准的英文名称为Standard methods for measuring conductivity type of extrinsic semiconducting materials，本标准在1997-06-03发布，在1997-12-01开始实施。
本标准作废日期为2019-11-01。被标准GB/T 1550-2018替代。
该标准采用了标准ASTM F42-1988,MOD。
本标准规定了非本征半导体材料导电类型的测试方法。本标准适用于非本征半导体材料导电类型的测定,其中较详细地规定了锗和硅导电类型的测试方法。本标准方法能保证对均匀的同一导电类型的材料测得的可靠结果,对于非均匀试样,可在其表面上测出不同导电类型区域。本标准方法不适用于分层结构试样,如外延片的导电类型的测定。
本标准文件共有10页。
GB_T 1550-1997 非本征半导体材料导电类型测试方法.pdf