GB/T 15653-1995 金属氧化物半导体气敏元件测试方法:本标准为GB/T 15653-1995，标准的中文名称为金属氧化物半导体气敏元件测试方法，标准的英文名称为Measuring methods for gas sensors of metal-oxide semiconductor，本标准在1995-07-24发布，在1996-04-01开始实施。
该标准采用了标准 。
本标准规定了金属氧化物半导体气敏元件(以下简称元件) 参数测试方法的基本原理,没有规定这些方法在实际使用时的技术细节,测试时可按相应的详细规范的规定进行。本标准适用于金属氧化物半导体气敏元件性能参数的测试,其他气敏元件亦可参照使用。
本标准文件共有12页。
GB_T 15653-1995 金属氧化物半导体气敏元件测试方法.pdf