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标准规范网 下载中心 其它 GB_T 38532-2020 微束分析 电子背散射衍射 平均晶粒尺寸的测定.pdf

GB_T 38532-2020 微束分析 电子背散射衍射 平均晶粒尺寸的测定.pdf

 

GB/T 38532-2020 微束分析 电子背散射衍射 平均晶粒尺寸的测定:
微束分析 电子背散射衍射 平均晶粒尺寸的测定(GB/T 38532-2020),英文名为Microbeam analysis—Electron backscatter diffraction—Measurement of average grain size。
微束分析 电子背散射衍射 平均晶粒尺寸的测定(GB/T 38532-2020)是在2020-03-06发布,在2021-02-01开始实施。
该标准采用了标准本标准等同采用ISO国际标准-ISO 13067-2011。
本标准文件共有24页。


标准封面截图:
GB/T 38532-2020 微束分析 电子背散射衍射 平均晶粒尺寸的测定

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