GB/T 17444-1998 红外焦平面阵列特性参数测试技术规范:本标准为GB/T 17444-1998，标准的中文名称为红外焦平面阵列特性参数测试技术规范，标准的英文名称为The technical norms for measurementand test of characteristic parameters of infrared focal plane arrays，本标准在1998-07-30发布，在1999-05-01开始实施。
本标准作废日期为2014-04-15。被标准GB/T 17444-2013替代。
本标准所指的焦平面，是敏感红外辐照(以下简称辐照)的光敏阵列并带有读出电路的器件。 本标准对焦平面特性参数及相关量进行了定义。 本标准给出了焦平面主要特性参数的测试方法及测试条件。 本标准适用于线列和面阵焦平面。
本标准文件共有20页。
GB_T 17444-1998 红外焦平面阵列特性参数测试技术规范.pdf