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GB_T 24581-2022 硅单晶中III、V族杂质含量的测定低温傅立叶变换红外光谱法.pdf

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GB/T 24581-2022 硅单晶中III、V族杂质含量的测定低温傅立叶变换红外光谱法:

本标准为GB/T 24581-2022，标准的中文名称为硅单晶中III、V族杂质含量的测定低温傅立叶变换红外光谱法，标准的英文名称为Test method for Ⅲ and Ⅴ impurities content in single crystal silicon—Low temperature FT-IR analysis method，本标准在2022-03-09发布，在2022-10-01开始实施。
本标准文件共有9页。

标准封面截图：
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