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GB_T 4937.27-2023 半导体器件机械和气候试验方法第27部分：静电放电（ESD）敏感度测试机器模型（MM）.pdf

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GB/T 4937.27-2023 半导体器件机械和气候试验方法第27部分：静电放电（ESD）敏感度测试机器模型（MM）:

半导体器件机械和气候试验方法第27部分：静电放电（ESD）敏感度测试机器模型（MM）（GB/T 4937.27-2023），英文名为Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 27: Electrostatic discharge(ESD) sensitivity testing—Machine model(MM)。
半导体器件机械和气候试验方法第27部分：静电放电（ESD）敏感度测试机器模型（MM）（GB/T 4937.27-2023）是在2023-05-23发布，在2023-12-01开始实施。
该标准采用了标准本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60749-27：2012。。
本标准文件共有14页。

标准封面截图：
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