本标准为GB/T 42848-2023，标准的中文名称为半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法，标准的英文名称为Semiconductor intergrated circuits—Test method of direct digital frequency synthesizer，本标准在2023-08-06发布，在2023-12-01开始实施。
本文件规定了半导体集成电路中直接数字频率合成器（以下简称“器件”）电特性的通用测试方法。本文件适用于单通道及多通道直接数字频率合成器电路的测试。
本标准文件共有32页。
GB_T 42848-2023 半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法.pdf