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标准规范网 下载中心 国家标准 【GB】国家标准 GB/T 42674-2023 光学功能薄膜 微结构厚度测试方法: GB_T 42674-2023.png

GB/T 42674-2023 光学功能薄膜 微结构厚度测试方法: GB_T 42674-2023.png

 

GB/T 42674-2023 光学功能薄膜 微结构厚度测试方法:
光学功能薄膜 微结构厚度测试方法(GB/T 42674-2023),英文名为Optical functional films—Measurement method for microstructure thickness。
光学功能薄膜 微结构厚度测试方法(GB/T 42674-2023)是在2023-08-06发布,在2024-03-01开始实施。
该标准采用了标准NEQ,ISO 9220-2022。
本文件描述了通过扫描电子显微镜(SEM)检测光学功能薄膜(以下简称薄膜)横截面微结构厚度(以下简称横截面厚度)的方法。本文件适用于厚度不小于50nm的光学功能薄膜的单层或多层结构的厚度测试。
本标准文件共有10页。


标准封面截图:
GB/T 42674-2023 光学功能薄膜 微结构厚度测试方法

GB/T 42674-2023 光学功能薄膜 微结构厚度测试方法: GB_T 42674-2023.png

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