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GB_T 22319.6-2023 石英晶体元件参数的测量第6部分：激励电平相关性(DLD)的测量.pdf

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GB/T 22319.6-2023 石英晶体元件参数的测量第6部分：激励电平相关性(DLD)的测量:

本标准为GB/T 22319.6-2023，标准的中文名称为石英晶体元件参数的测量第6部分：激励电平相关性(DLD)的测量，标准的英文名称为Measurement of quartz crystal unit parameters—Part 6: Measurement of drive level dependence(DLD)，本标准在2023-09-07发布，在2024-01-01开始实施。
该标准采用了标准IDT,IEC 60444-6-2021。
本文件适用于石英晶体元件激励电平相关性(DLD)的测量。本文件规定两种试验方法(A和C)和一种基准测量方法(方法B)。方法A以IEC 60444-5的n型网络为基础，适用于本文件所覆盖的整个频率范围。基准测量方法B依据IEC 60444-5或IEC60444-8的x型网络或反射法为基础,适用于本文件所覆盖的整个频率范围。方法C是振荡器法,适用于固定条件下大批量基频石英晶体元件的测量。
本标准文件共有18页。

标准封面截图：
GB/T 22319.6-2023 石英晶体元件参数的测量第6部分：激励电平相关性(DLD)的测量

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