微束分析 分析电子显微术 层状材料截面像中界面位置的确定方法（GB/T 43087-2023），英文名为Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials。
微束分析 分析电子显微术 层状材料截面像中界面位置的确定方法（GB/T 43087-2023）是在2023-09-07发布，在2024-04-01开始实施。
该标准采用了标准MOD,ISO 20263-2017。
本文件规定了用层状材料截面像所记录的两种不同材料之间平均界面位置的测定方法。本文件适用于透射电子显微镜（TEM）或扫描透射电子显微镜（STEM）所记录的层状材料截面像和X射线能谱仪（EDS）或者电子能量损失谱仪（EELS）所记录的截面元素面分布图。也适用于由数码相机、电脑存储器和成像板图像传感器所采集的数字像以及胶片记录的模拟像经扫描仪转换的数字像。
本标准文件共有44页。
GB/T 43087-2023 微束分析 分析电子显微术 层状材料截面像中界面位置的确定方法: GB_T 43087-2023.png