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GB_T 42907-2023 硅锭、硅块和硅片中非平衡载流子复合寿命的测试非接触涡流感应法.pdf

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GB/T 42907-2023 硅锭、硅块和硅片中非平衡载流子复合寿命的测试非接触涡流感应法:

《硅锭、硅块和硅片中非平衡载流子复合寿命的测试非接触涡流感应法》（GB/T 42907-2023），该标准的归口单位为国家标准委，英文名为Test method for excess-charge-carrier recombination lifetime in silicon ingots, silicon bricks and silicon wafers—Noncontact eddy-current sensor。
《硅锭、硅块和硅片中非平衡载流子复合寿命的测试非接触涡流感应法》（GB/T 42907-2023）是在2023-08-06发布，在2024-03-01开始实施。
本标准文件共有16页。

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GB/T 42907-2023 硅锭、硅块和硅片中非平衡载流子复合寿命的测试非接触涡流感应法

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