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GB_T 1553-2023 硅和锗体内少数载流子寿命的测定光电导衰减法.pdf

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本标准为GB/T 1553-2023，标准的中文名称为硅和锗体内少数载流子寿命的测定光电导衰减法，标准的英文名称为Test methods for minority carrier lifetime in bulk silicon and germanium—Photoconductivity decay method，本标准在2023-08-06发布，在2024-03-01开始实施。
本标准文件共有27页。

标准封面截图：
GB/T 1553-2023 硅和锗体内少数载流子寿命的测定光电导衰减法

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