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GB_T 41805-2022 光学元件表面疵病定量检测方法显微散射暗场成像法.pdf

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GB/T 41805-2022 光学元件表面疵病定量检测方法显微散射暗场成像法:

本标准为GB/T 41805-2022，标准的中文名称为光学元件表面疵病定量检测方法显微散射暗场成像法，标准的英文名称为Methodology for the quantitative inspection of the defect on optics surface—Microscopic scattering dark-field imaging，本标准在2022-10-14发布，在2023-05-01开始实施。
本标准文件共有15页。

标准封面截图：
GB/T 41805-2022 光学元件表面疵病定量检测方法显微散射暗场成像法

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