本标准为GB/T 43610-2023，标准的中文名称为微束分析 分析电子显微术 线状晶体表观生长方向的透射电子显微术测定方法，标准的英文名称为Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Method of determination for apparent growth direction of wirelike crystals by transmission electron microscopy，本标准在2023-12-28发布，在2024-07-01开始实施。
该标准采用了标准MOD,ISO 19214-2017。
本文件描述了用透射电子显微术测定线状晶体表观生长方向的方法。本文件适用于通过各种方法制备的所有种类的线状晶体材料，也适用于测定在钢、合金和其他材料中析出的类似于棒状或多边形第二相颗粒的一个轴的方向。受透射电子显微镜（TEM）的加速电压和样品自身等条件的制约，本文件适用于直径（或厚度或宽度）为几十纳米到一百纳米左右的晶体材料。本文件不适用于测定折叠、扭曲、旋转状态的线状晶体。
本标准文件共有25页。
GB_T 43610-2023 微束分析 分析电子显微术 线状晶体表观生长方向的透射电子显微术测定方法.pdf