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GB_T 14140-2025 半导体晶片直径测试方法.pdf

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上传时间: 2025-08-11
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GB/T 14140-2025 半导体晶片直径测试方法:

《半导体晶片直径测试方法》（GB/T 14140-2025），该标准的归口单位为国家标准委，英文名为Test method for measuring diameter of semiconductor wafer。
《半导体晶片直径测试方法》（GB/T 14140-2025）是在2025-08-01发布，在2026-02-01开始实施。
本标准文件共有11页。

标准封面截图：
GB/T 14140-2025 半导体晶片直径测试方法

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