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GB_Z 119-2026 晶体硅光伏组件光热诱导衰减（LETID）试验检测.pdf

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GB/Z 119-2026 晶体硅光伏组件光热诱导衰减（LETID）试验检测:

晶体硅光伏组件光热诱导衰减（LETID）试验检测（GB/Z 119-2026），英文名为C-Si photovoltaic(PV) modules—Light and elevated temperature induced degradation (LETID) test—Detection。
晶体硅光伏组件光热诱导衰减（LETID）试验检测（GB/Z 119-2026）是在2026-01-04发布，在2026-01-04开始实施。
该标准采用了标准IDT,IEC TS 63342:2022。
本文件描述了晶体硅光伏组件光热诱导衰减（LETID）的试验方法，包括仪器装置、样品准备、测试步骤、结果处理和报告内容等。本文件适用于晶体硅光伏组件，用于揭示样品对 LETID 衰减机制的敏感性，但不能精确测量其在户外实际的衰减情况。户外衰减的程度和时间尺度取决于所处气候和组件技术。
本标准文件共有13页。

标准封面截图：
GB/Z 119-2026 晶体硅光伏组件光热诱导衰减（LETID）试验检测

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