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GB_T 4937.44-2025 半导体器件机械和气候试验方法第44部分：半导体器件的中子辐照单粒子效应（SEE）试验方法.pdf

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GB/T 4937.44-2025 半导体器件机械和气候试验方法第44部分：半导体器件的中子辐照单粒子效应（SEE）试验方法:

本标准为GB/T 4937.44-2025，标准的中文名称为半导体器件机械和气候试验方法第44部分：半导体器件的中子辐照单粒子效应（SEE）试验方法，标准的英文名称为Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices，本标准在2025-12-02发布，在2026-07-01开始实施。
该标准采用了标准本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60749-44 :2016。。
本标准文件共有19页。

标准封面截图：
GB/T 4937.44-2025 半导体器件机械和气候试验方法第44部分：半导体器件的中子辐照单粒子效应（SEE）试验方法

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