半导体器件 机械和气候试验方法 第40部分：采用应变仪的板级跌落试验方法（GB/T 4937.40-2025），英文名为Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 40: Board level drop test method using a strain gauge。
半导体器件 机械和气候试验方法 第40部分：采用应变仪的板级跌落试验方法（GB/T 4937.40-2025）是在2025-12-31发布，在2026-07-01开始实施。
该标准采用了标准本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60749-40:2011。。
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GB_T 4937.40-2025 半导体器件 机械和气候试验方法 第40部分：采用应变仪的板级跌落试验方法.pdf