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GB_T 4937.24-2025 半导体器件机械和气候试验方法第24部分：加速耐湿无偏置强加速应力试验.pdf

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GB/T 4937.24-2025 半导体器件机械和气候试验方法第24部分：加速耐湿无偏置强加速应力试验:

半导体器件机械和气候试验方法第24部分：加速耐湿无偏置强加速应力试验（GB/T 4937.24-2025），英文名为Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 24: Accelerated moisture resistance—Unbiased HAST。
半导体器件机械和气候试验方法第24部分：加速耐湿无偏置强加速应力试验（GB/T 4937.24-2025）是在2025-12-02发布，在2026-07-01开始实施。
该标准采用了标准IDT,IEC 60749-24-2004。
本文件用于评价非气密封装固态器件在潮湿环境下的可靠性。本方法为强加速试验，是在没有冷凝的条件下通过温度和湿度加速潮气穿透外部保护材料（包封或密封）或外部保护材料和金属导体的交接面。本方法不施加偏置，以确保潜在的失效机理不能由偏置造成（例如电化学腐蚀）。本试验用于确定封装内部的失效机理，是一种破坏性试验。
本标准文件共有11页。

标准封面截图：
GB/T 4937.24-2025 半导体器件机械和气候试验方法第24部分：加速耐湿无偏置强加速应力试验

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