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GB_Z 107-2025 半导体器件基于扫描的半导体器件退化水平评估.pdf

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GB/Z 107-2025 半导体器件基于扫描的半导体器件退化水平评估:

半导体器件基于扫描的半导体器件退化水平评估（GB/Z 107-2025），英文名为Semiconductor devices—Scan based ageing level estimation for semiconductor devices。
半导体器件基于扫描的半导体器件退化水平评估（GB/Z 107-2025）是在2025-12-03发布，在2025-12-03开始实施。
该标准采用了标准本标准等同采用IEC国际标准：IEC TR 63133:2017。。
本标准文件共有15页。

标准封面截图：
GB/Z 107-2025 半导体器件基于扫描的半导体器件退化水平评估

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